Detailergebnis zu DOK-Nr. 46226
Zusammenhang zwischen Rauheit und Griffigkeit
Autoren |
S. Huschek P. Merzoug |
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Sachgebiete |
14.1 Griffigkeit, Rauheit |
Forschung Straßenbau und Straßenverkehrstechnik (BMV, Bonn) H. 735, 1997, 173 S., zahlr. B, T, 14 Q
Die mit Triangulationslasern berührungslos arbeitenden Meßverfahren bieten die Möglichkeit "Tastschnitte" von der Fahrbahnoberfläche aufzunehmen. Daraus können Rauheitskenngrößen berechnet werden. Ziel dieser Forschungsarbeit war die Entwicklung von meßbaren Rauheitskenngrößen und der Nachweis des Zusammenhanges zwischen diesen Kennwerten und der Griffigkeit. Die wesentlichen Ergebnisse können wie folgt bewertet werden: 1.) Das Laser-Texturmeßgerät der TU Berlin ermöglicht das Erfassen von Rauheitsprofilen der Fahrbahnoberfläche sowie die Berechnung von Rauheitskennwerten im Bereich der Makro- und Megarauheit. Im einzelnen werden die Kennwerte mittlere Profiltiefe (MPD), quadratischer Mittelwert der Texturtiefe und mittlere Texturtiefe entsprechend dem Sandfleckverfahren berechnet. Des weiteren wird ein Terzbandspektrum für den Wellenlängenbereich von 1 mm bis 500 mm erstellt. 2.) Um die Kennwerte für die Makrorauheit mit einer statistischen Sicherheit von 95 % auf eine Genauigkeit von ± 10 % des Meßwertes zu messen, sind auf feinen Fahrbahnoberflächen (MPD < 1 mm) mindestens 5 Profile mit 2 m Länge und auf groben Fahrbahnoberflächen (MPD > 1 mm) mindestens 10 Profile mit 2 m Länge erforderlich. 3.) Es ist bekannt, daß die Rauheit einer Deckschicht im Querprofil erhebliche Unterschiede aufweist. Aber auch in Längsrichtung unterliegt die Rauheit einer Deckschicht erheblichen Schwankungen. So lagen die Differenzen zweier aus jeweils 10 Einzelprofilen berechneter MPD-Werte auf einer Deckschicht im Bereich von 0,01 mm bis 0,18 mm. 4.) Die mit der Rauheitssonde der BASt aufgenommenen Rohdaten sind mit dem Rechenprogramm der TU Berlin ausgewertet worden. Die Übereinstimmung der Rauheitskennwerte beider Meßmethoden ist trotz unterschiedlicher Stichprobenerhebung gut. 5.) Der vermutete Zusammenhang zwischen der Neigung der µ(s)-Kurve und der Makrorauheit konnte nachgewiesen werden. Für diesen Nachweis ist das PIARC-Modell benutzt worden. Der Rauheitskennwert MPD (mean profile depth) hat sich als für die Neigung der µ(s)-Kurve maßgebender Profilkennwert gut geeignet.